XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorTkachenko, V.F.
dc.contributor.authorLukienko, O.A.
dc.contributor.authorBudnikov, A.T.
dc.contributor.authorVovk, E.A.
dc.contributor.authorKrivonogov, S.I.
dc.contributor.authorDan`ko, A.Ya.
dc.date.accessioned2018-06-15T11:22:12Z
dc.date.available2018-06-15T11:22:12Z
dc.date.issued2011
dc.identifier.citationXRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation / V.F. Tkachenko, O.A. Lukienko, A.T. Budnikov, E.A. Vovk, S.I. Krivonogov, A.Ya. Dan`ko // Functional Materials. — 2011. — Т. 18, № 2. — С. 171-175. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1027-5495
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135460
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherНТК «Інститут монокристалів» НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofFunctional Materials
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectCharacterization and propertiesuk_UA
dc.titleXRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientationuk_UA
dc.title.alternativeРентгендифрактометричні дослідження приповерхневих шарів підкладок з сапфіру з кристалографічною орієнтацією <1012>uk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
05-Tkachenko.pdf
Розмір:
298.23 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Functional Materials, 2011, № 2