Photoelectric properties of metal-porous silicon-silicon planar heterostructures

dc.contributor.authorBrodovoi, A.V.
dc.contributor.authorBrodovoi, V.A.
dc.contributor.authorSkryshevskyi, V.A.
dc.contributor.authorBunchuk, S.G.
dc.contributor.authorKhnorozok, L.M.
dc.date.accessioned2017-06-14T07:35:56Z
dc.date.available2017-06-14T07:35:56Z
dc.date.issued2002
dc.description.abstractDark and light I-V characteristics as well as spectral curves of planar Ni-porous silicon-p-Si-Ni heterostructures have been studied. It is shown that photogeneration in heterostructure occurs both in the region of thin porous silicon layer and p-Si base. Avalanche breakdown is observed in the heterostructure at applied voltage biases V > 8-10 V and T = 77 K. The coefficient of multiplying at V = 11 V achieves 60 (dark) and 200 (light), which is close to that of silicon n+-p-i-p+ avalanche photodiodes.uk_UA
dc.identifier.citationPhotoelectric properties of metal-porous silicon-silicon planar heterostructures / A.V. Brodovoi, V.A. Brodovoi, V.A. Skryshevskyi, S.G. Bunchuk, L.M. Khnorozok // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2002. — Т. 5, № 4. — С. 395-397. — Бібліогр.: 14 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1560-8034
dc.identifier.otherPACS: 79.60.Jv
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/121336
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofSemiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titlePhotoelectric properties of metal-porous silicon-silicon planar heterostructuresuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
10-Brodovoi.pdf
Розмір:
157.2 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: