X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector

dc.contributor.authorMikhailov, I.F.
dc.contributor.authorBaturin, A.A.
dc.contributor.authorFomina, L.P.
dc.date.accessioned2018-06-12T18:36:18Z
dc.date.available2018-06-12T18:36:18Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationX-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector / I.F. Mikhailov, A.A. Baturin, L.P. Fomina // Functional Materials. — 2010. — Т. 17, № 1. — С. 127-130. — Бібліогр.: 2 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1027-5495
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/134203
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherНТК «Інститут монокристалів» НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofFunctional Materials
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectTechnologyuk_UA
dc.titleX-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detectoruk_UA
dc.title.alternativeРентгенофлуоресцентне визначення "слідів" домішок із застосуванням вторинного випромінювача та твердотільного детектораuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
23-Mikhailov.pdf
Розмір:
206.04 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: