Влияние оптических свойств полупроводника и параметров профиля периодической поверхности на структуру плазмон-поляритонного резонанса в терагерцевом диапазоне

Abstract

Приведены результаты экспериментальных и теоретических исследований подавления зеркального отражения при дифракции на решетке InSb терагерцевого излучения HCN-лазера в условиях плазмон-поляритонного резонанса. Исследована зависимость положения резонанса и его ширины от глубины штрихов решетки. Показано, что диэлектрическая пленка, нанесенная на поверхность решетки, увеличивает ширину резонанса и смещает его максимум относительно точки Рэлея. Теоретические оценки, основанные на резонансной теории дифракции, хорошо согласуются с экспериментальными данными, что позволяет исследовать влияние параметров задачи на характеристики резонанса.

Наводяться результати експериментальних і теоретичних досліджень заглушення дзеркального відбиття у дифракції на гратці Insb терагерцового випромінювання HCN-лазера в умовах плазмон-поляритонного резонансу. Досліджено залежність положення резонансу та його ширини від глибини штрихів гратки. Показано, що діелектрична плівка, нанесена на поверхню гратки, збільшує ширину резонансу та зсуває його максимум відносно точки Релея. Теоретичні оцінки, які грунтуються на резонансній теорії дифракції, добре узгоджуються з експериментальними результатами, що дозволяє досліджувати вплив параметрів задачі на характеристики резонансу.

The results of experimental and theoretical studies of specular reflection suppression in diffraction of HCN-laser terahertz radiation on InSb grating under surface plasmon-polariton resonance condition are presented. Dependence of the resonance position and its width is investigated vs. grating depth. The dielectric film deposited on the grating surface is shown to increase the resonance width and shift its maximum away from the Rayleigh point. The resonance diffraction theory presented agrees well with the experimental results, thus allowing to investigate the influence of problem parameters on the resonance characteristics.