Метод компенсации действия радиации на магнитоуправляемые микросхемы
dc.contributor.author | Викулина, Л.Ф. | |
dc.contributor.author | Храмов, Е.Ф. | |
dc.date.accessioned | 2014-11-15T16:43:59Z | |
dc.date.available | 2014-11-15T16:43:59Z | |
dc.date.issued | 2001 | |
dc.description.abstract | Исследовано влияние γ-излучения на параметры магнитоуправляемых переключающих микросхем типа К1116КП. Обнаружено, что под действием излучения уменьшается эдс Холла, входящего в схему датчика, а также коэффициенты передачи по току транзисторов, что приводит к увеличению пороговой индукции магнитного поля Вп, при достижении которой происходит переключение. Предложен схемный метод компенсации изменения указанных величин, что позволяет создавать микросхемы со стабильным значением Вп. | uk_UA |
dc.identifier.citation | Метод компенсации действия радиации на магнитоуправляемые микросхемы / Л.Ф. Викулина, Е.Ф. Храмов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 49-50. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. | uk_UA |
dc.identifier.issn | 2225-5818 | |
dc.identifier.udc | 621.382 | |
dc.identifier.uri | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70878 | |
dc.language.iso | ru | uk_UA |
dc.publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України | uk_UA |
dc.relation.ispartof | Технология и конструирование в электронной аппаратуре | |
dc.status | published earlier | uk_UA |
dc.subject | Компоненты для электронной аппаратуры | uk_UA |
dc.title | Метод компенсации действия радиации на магнитоуправляемые микросхемы | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Файли
Оригінальний контейнер
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- 13-Vikulina.pdf
- Розмір:
- 156.32 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Контейнер ліцензії
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 817 B
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: