Квантовые эффекты в дырочных Si/SiGe гетеропереходах

dc.contributor.authorКомник, Ю.Ф.
dc.contributor.authorАндриевский, В.В.
dc.contributor.authorБеркутов, И.Б.
dc.contributor.authorКрячко, С.С.
dc.contributor.authorМиронов, М.
dc.contributor.authorВолл, Т.E.
dc.date.accessioned2018-01-16T18:09:34Z
dc.date.available2018-01-16T18:09:34Z
dc.date.issued2000
dc.description.abstractИзучены температурные и магнитополевые изменения сопротивления гетеропереходов Si/SiGe с дырочным типом проводимости. Показано, что особенности этих зависимостей связаны с проявлением квантовых интерференционных эффектов - слабой локализацией подвижных носителей заряда и междырочным взаимодействием в двумерной электронной системе. На основании анализа квантовых интерференционных эффектов определена температурная зависимость времени сбоя фазы волновой функции носителей заряда: τφ= 6,6×10⁻¹² T⁻¹ c.Зависимость τφ∝T⁻¹ следует рассматривать как проявление процессов междырочного рассеяния в двумерной электронной системе. Выделен вклад в магнитосопротивление эффекта междырочного взаимодействия в куперовском канале и найдена соответствующая константа взаимодействия λ₀C ≈ 0,5.uk_UA
dc.description.abstractThe temperature and magnetic-field dependences of the resistance of Si/SiGe heterojunctions with hole-type conductivity are investigated. It is shown that the features of these dependences are due to a manifestation of quantum interference effects — weak localization of the mobile charge carriers, and the hole–hole interaction in the two-dimensional electron system. On the basis of an analysis of the quantum interference effects, the temperature dependence of the dephasing time of the wave function of the charge carrier is determined: τφ=6.6×10⁻¹²T⁻¹s. This dependence τφ∝T⁻¹ must be regarded as a manifestation of hole–hole scattering processes in the two-dimensional electron system. The contribution to the magnetoresistance from the hole–hole interaction in the Cooper channel is extracted, and the corresponding interaction constant λC0≈0.5 is found.uk_UA
dc.identifier.citationКвантовые эффекты в дырочных Si/SiGe гетеропереходах / Ю.Ф. Комник, В.В. Андриевский, И.Б. Беркутов, С.С. Крячко, М. Миронов, Т.E. Волл // Физика низких температур. — 2000. — Т. 26, № 8. — С. 829-836. — Бібліогр.: 19 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn0132-6414
dc.identifier.otherPACS: 73.20.Fz, 72.20.My
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/129201
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherФізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofФизика низких температур
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectЭлектpонные свойства металлов и сплавовuk_UA
dc.titleКвантовые эффекты в дырочных Si/SiGe гетеропереходахuk_UA
dc.title.alternativeQuantum effects in hole-type Si/SiGe heterojunctionsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
12-Komnik.pdf
Розмір:
291.65 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: