Особенности электрофизических свойств полупроводниковых алмазов, выращенных методом температурного градиента

dc.contributor.authorЧепугов, А.П.
dc.contributor.authorКатруша, А.Н.
dc.contributor.authorРоманко, Л.А.
dc.contributor.authorИвахненко, С.А.
dc.contributor.authorЗаневский, О.А.
dc.contributor.authorМарков, А.И.
dc.date.accessioned2014-05-31T07:11:07Z
dc.date.available2014-05-31T07:11:07Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractИзучена структура полупроводниковых монокристаллов алмаза, выращенных методом температурного градиента. Установлено, что образцы имеют сложное секториальное строение. Изучена возможность выращивания кристаллов алмаза, в объеме которых одна из пирамид роста имеет преимущественное развитие и является доминирующей. Измерена удельная электропроводность. Показана возможность получения довольно однородных полупроводниковых образцов из частей объема, принадлежащих отдельным пирамидам роста монокристалла алмаза.uk_UA
dc.description.abstractВивчено структуру напівпровідникових монокристалів алмазу, вирощених методом температурного градієнта. Встановлено, що зразки мають складну секторіальну будову. Вивчено можливість вирощування кристалів алмазу, в об’ємі яких одна з пірамід росту має переважний розвиток і є домінуючою. Виміряно питому електропровідність. Показано можливість отримання доволі однорідних напівпровідникових зразків з частин об’єму, що належать окремим пірамідам росту монокристалу алмазу.uk_UA
dc.description.abstractThe structure of semiconducting diamond single crystals grown by temperature gradient method were studied. It is established that the samples has complex sectorial structure. The possibility of growing diamond crystals in volume of which one of the growth pyramids has a preferential development and is the dominant one were studied, measurements of their electrical conductivity were performed. It is shown that it is possible to obtain homogeneous semiconductor samples from parts that belonging to individual growth pyramids of a single diamond crystal.uk_UA
dc.identifier.citationОсобенности электрофизических свойств полупроводниковых алмазов, выращенных методом температурного градиента / А.П. Чепугов, А.Н. Катруша, Л.А. Романко, С.А. Ивахненко, О.А. Заневский, А.И. Марков // Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения: Сб. науч. тр. — К.: ІНМ ім. В.М. Бакуля НАН України, 2011. — Вип. 14. — С. 254-261. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn2223-3938
dc.identifier.udc546.26-162
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/63245
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofПородоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectИнструментальные, конструкционные и функциональные материалы на основе алмаза и кубического нитрида бораuk_UA
dc.titleОсобенности электрофизических свойств полупроводниковых алмазов, выращенных методом температурного градиентаuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
54-ChepugovNEW.pdf
Розмір:
839.25 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: