Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЛизунов, В.В.
dc.contributor.authorКочелаб, Е.В.
dc.contributor.authorСкакунова, Е.С.
dc.contributor.authorЛень, Е.Г.
dc.contributor.authorМолодкин, В.Б.
dc.contributor.authorОлиховский, С.И.
dc.contributor.authorТолмачёв, Н.Г.
dc.contributor.authorШелудченко, Б.В.
dc.contributor.authorЛизунова, С.В.
dc.contributor.authorСкапа, Л.Н.
dc.date.accessioned2015-11-06T19:15:40Z
dc.date.available2015-11-06T19:15:40Z
dc.date.issued2015
dc.description.abstractНа основе построенной в первой части работы обобщённой модели дисперсионночувствительной дифрактометрии неидеальных кристаллов произвольной толщины проведён анализ дифференциальных и интегральных картин рассеяния для широкого интервала эффективных толщин кристалла.uk_UA
dc.description.abstractНа основі побудованої у першій частині роботи узагальненої моделі дисперсійночутливої дифрактометрії неідеальних кристалів довільної товщини проведено аналіз диференційних та інтеґральних картин розсіяння для широкого інтервалу ефективних товщин кристалу.uk_UA
dc.description.abstractBased on generalized model of dispersion-sensitive diffractometry constructed in the first part for imperfect crystals of arbitrary thickness, the analysis of differential and integral scattering patterns for a wide range of effective thickness of the crystal is carried out.uk_UA
dc.identifier.citationДисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент / В.В. Лизунов, Е.В. Кочелаб, Е.С. Скакунова, Е.Г. Лень, В.Б. Молодкин, С.И. Олиховский, Н.Г. Толмачёв, Б.В. Шелудченко, С.В. Лизунова, Л.Н. Скапа // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2015. — Т. 13, № 2. — С. 349–370. — Бібліогр.: 19 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn1816-5230
dc.identifier.otherPACS numbers: 07.85.Jy, 61.05.cc, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.46.Hk, 61.72.Dd, 68.55.jd
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/87995
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofНаносистеми, наноматеріали, нанотехнології
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleДисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный экспериментuk_UA
dc.title.alternativeThe Dispersion Sensitivity of Scattering Pattern to Defects Depending on Thickness of Crystalline Products of Nanotechnologies. II. Numerical Experimentuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
09-Lizunov.pdf
Розмір:
804.06 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2015, № 2