Позитронная спектроскопия высокотемпературных сверхпроводников YBa2Cu3O7-δ, облученных малыми флюенсами быстрых нейтронов

dc.contributor.authorГорелов, Б.М.
dc.date.accessioned2012-12-15T10:41:07Z
dc.date.available2012-12-15T10:41:07Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractВ высокотемпературном сверхпроводнике YBa2Cu3O7-δ (δ ≈ 0) при облучении флюенсами ф ≤ 10↑14 см↑-2 быстрых нейтронов в промежуточных слоях реализуется интенсивное подпороговое дефектообразование, когда число образованных дефектов более чем в 10³ раз превышает количество радиационных дефектов, созданных за счет ударного механизма. Дефектообразование проявляется при ф > 10¹¹ см↑-2, характеризуется созданием преимущественно дефектов катионов Ва и Cu1, понижением электронной плотности в слоях и сопровождается немонотонным уменьшением концентрации кластеров вакансий. Предполагается, что подпороговый механизм образования дефектов, связан с распадом коллективных возбуждений, число которых растет в неравновесных условиях нейтронного облучения.uk_UA
dc.description.abstractУ високотемпературному надпровіднику YBa2Cu3O7-δ (δ ≈ 0) при опроміненні флюенсами ф ≤ 10↑14 см↑-2 швидких нейтронів в проміжних шарах реалізується інтенсивне підпорогове дефектоутворення, при якому число утворених дефектів більш ніж в 10³ разів перевищує кількість радіаційних дефектів, створених за рахунок ударного механізму. Дефектоутворення виявляється, коли ф > 10¹¹ см↑-2, та характеризується створенням переважно катіонних дефектів Ва та Cu1, зниженням електронної густини в проміжних шарах і супроводжується немонотонним зменшенням концентрації кластерів вакансій. Запропонований підпороговий механізм утворення дефектів, пов’язаний з розпадом колективних збуджень, число яких росте в нерівноважному стані електронної густини при нейтронному опроміненні.uk_UA
dc.description.abstractThe intensive subthreshold defect formation occurs in the intermediate layers of YBa2Cu3O7-δ (δ ≈ 0) high temperature superconductor under neutron irradiation with low fluencies of 10¹¹ < ф ≤10↑14 сm↑-2. The number of defects created due to the low energy mechanism more than 10³ times exceeds the content of radiation defects formed owing to the impact mechanism. The subthreshold defect formation reveals in a decrease of the electron density in the intermediate layers with nonmonotone lowering concentration of vacancy clusters. The behavior of electron density is caused by formation of Ва and Cu1 cation defects and their accumulation in the thin surface layer of crystals. It is supposed that the subthreshold defect formation is related to the decay of collective excitations stimulated in the non equilibrium state of electron density under the neutron irradiation.uk_UA
dc.identifier.citationПозитронная спектроскопия высокотемпературных сверхпроводников YBa2Cu3O7-δ, облученных малыми флюенсами быстрых нейтронов / Б.М. Горелов // Поверхность. — 2010. — Вип. 2(17). — С. 19-31. — Бібліогр.: 44 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issnXXXX-0106
dc.identifier.udc544.144: 544.173
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/39319
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofПоверхность
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectТеория химического строения и реакционной способности поверхности. Моделирование процессов на поверхностиuk_UA
dc.titleПозитронная спектроскопия высокотемпературных сверхпроводников YBa2Cu3O7-δ, облученных малыми флюенсами быстрых нейтроновuk_UA
dc.title.alternativeПозитронна спектроскопія високотемпературних надпровідників YBa2Cu3O7-δ, опромінених малими флюенсами швидких нейтронівuk_UA
dc.title.alternativePositron spectroscopy of YBa2Cu3O7-δ high temperature superconductor irradiated with low fluencies of fast neutronsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
04-Gorelov.pdf
Розмір:
249.79 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
929 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: