Локальные деформации в кристаллах алмаза, определенные с помощью Фурье-преобразования картин Кикучи

Abstract

Предложена новая методика определения локальных деформаций в кристаллах по картинам дифракции обратно отраженных электронов (картинам Кикучи) с использованием дискретного двумерного Фурье-преобразования. Данная методика апробирована при исследовании образцов алмаза, синтезированных при различных условиях. Полученные результаты хорошо согласуются с данными других методов.

Запропоновано нову методику визначення локальних деформацій у кристалах із картин дифракції зворотно відбитих електронів (картин Кікучі) з використанням дискретного двомірного Фур’є-перетворення. Дану методику апробовано при дослідженні зразків алмазу, синтезованих в різних умовах. Отримані результати добре узгоджуються з даними інших методів.

A new way of local strain determination in crystals from patterns of electron backscattering diffraction (Kikuchi patterns) based on discrete two-dimensional Fourier transformation has been proposed. This approach was approved at research of diamond samples synthesized under various conditions. Obtained results agree with data from other methods.