Electrostatic Field Tensities near Irregularities of Porous Silicon Surface
dc.contributor.author | Terebinska, M.I. | |
dc.contributor.author | Lobanov, V.V. | |
dc.contributor.author | Grebenyuk, A.G. | |
dc.date.accessioned | 2011-11-27T16:02:36Z | |
dc.date.available | 2011-11-27T16:02:36Z | |
dc.date.issued | 2010 | |
dc.description.abstract | Equilibrium spatial structure of the Si89(OH)43H*36 cluster model simulated for a pyramid-like formation on porous silicon surface has been calculated within the frameworks of density functional theory method with 6-31G** basis set. The electron charge and electrostatic field distribution have been evaluated in the vicinity of such a formation. The electrostatic field tensity has been found to be great enough to ionize adsorbed organic molecules. | uk_UA |
dc.description.abstract | Методом функціоналу електронної густини з використанням базисного набору 6-31 G** розраховано рівноважну просторову будову кластерної моделі складу Si89(OH)43H*36 для пірамідального утворення на поверхні поруватого силіцію. Одержано розподіл електронного заряду та електростатичного поля в околі такого утворення. Виявлено, що напруженість електростатичного поля достатня для іонізації адсорбованих органічних молекул. | uk_UA |
dc.description.abstract | Методом функционала электронной плотности с использованием базисного набора 6-31 G** рассчитано равновесное пространственное строение кластерной модели состава Si89(OH)43H*36 для пирамидального образования на поверхности пористого кремния. Получено распределение электронного заряда и электростатического поля вблизи такого образования. Обнаружено, что напряженность электростатического поля достаточна для ионизации адсорбированных органических молекул. | uk_UA |
dc.identifier.citation | Electrostatic Field Tensities near Irregularities of Porous Silicon Surface / M.I. Terebinska, V.V. Lobanov, A.G. Grebenyuk // Хімія, фізика та технологія поверхні. — 2010. — Т. 1, № 3. — С. 235-237. — Бібліогр.: 5 назв. — англ. | uk_UA |
dc.identifier.issn | 2079-1704 | |
dc.identifier.udc | 544.723 | |
dc.identifier.uri | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/28983 | |
dc.language.iso | en | uk_UA |
dc.publisher | Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України | uk_UA |
dc.relation.ispartof | Хімія, фізика та технологія поверхні | |
dc.status | published earlier | uk_UA |
dc.subject | Теорія хімічної будови, реакційної здатності та хімічного модифікування поверхні твердих тіл | uk_UA |
dc.title | Electrostatic Field Tensities near Irregularities of Porous Silicon Surface | uk_UA |
dc.title.alternative | Напруженість електростатичного поля в околі неоднорідностей на поверхні поруватого силіцію | uk_UA |
dc.title.alternative | Напряженность электростатического поля вблизи неоднородностей на поверхности пористого кремния | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Файли
Оригінальний контейнер
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- 03-Terebinska.pdf
- Розмір:
- 474.96 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Контейнер ліцензії
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 929 B
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: