High-power low-frequency current oscillations in germanium samples

dc.contributor.authorPavljuk, S.P.
dc.date.accessioned2017-05-27T10:00:05Z
dc.date.available2017-05-27T10:00:05Z
dc.date.issued2003
dc.description.abstractExperimental investigation of high-power low-frequency current oscillations in germanium samples with low injecting contacts is discussed in this article. The results obtained were explained by periodic formation, transport along the sample, and collapse of the thermal gradient-drift (TGD) domain. The domain formation mechanism is considered in details in [1].uk_UA
dc.identifier.citationHigh-power low-frequency current oscillations in germanium samples / S.P. Pavljuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2003. — Т. 6, № 1. — С. 19-22. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1560-8034
dc.identifier.otherPACS: 72.20.-i
dc.identifier.otherPACS: 72.80.Cw
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/117868
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofSemiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleHigh-power low-frequency current oscillations in germanium samplesuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
04-Pavljuk.pdf
Розмір:
241.38 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: