Deposition of TiO₂ thin films using atmospheric dielectric barrier discharge

dc.contributor.authorKlenko, Y.
dc.contributor.authorPíchal, J.
dc.date.accessioned2017-01-07T15:40:40Z
dc.date.available2017-01-07T15:40:40Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractIn this paper the influence of precursor (titanium tetraisopropoxide (TTIP)) temperature, precursor and gas flow rates on the surface properties of TiO₂ thin films deposited by atmospheric dielectric barrier discharge (ADBD) chemical vapour deposition (CVD) were investigated. Argon was used as working gas. Influence of O₂ used as oxidizer was evaluated for determination of hydrophilicity of the films. Surface morphology of the thin TiO2 films deposited on glass substrates was studied by the atomic force microscopy (AFM) and water contact angle (CA) measurement. CA tests proved wettability improvement in experiments with oxygen addition.uk_UA
dc.description.abstractБуло досліджено вплив температури прекурсору тетраізопропоксиду титану, швидкості потоку прекурсора і газу на поверхневі властивості плівок діоксиду титану, нанесених в атмосферному діелектричному бар'єрному розряді методом хімічного осадження з газової фази. Аргон був використаний як робочий газ. Також досліджувався вплив кисню як окислювача на гідрофільність плівок. Морфологія поверхні тонких плівок, нанесених на скляні підкладки, була досліджена атомно-силовою мікроскопією і виміром контактного кута. Тестування методом виміру контактного кута довело поліпшення гідрофільності плівок в експериментах, проведених з додаванням кисню.uk_UA
dc.description.abstractБыло исследовано влияние температуры прекурсора тетраизопропоксида титана, скорости потока прекурсора и газа на поверхностные свойства пленок диоксида титана, нанесенных в атмосферном диэлектрическом барьерном разряде методом химического осаждения из газовой фазы. Аргон был использован как рабочий газ. Также исследовалось влияние кислорода как окислителя на гидрофильность пленок. Морфология поверхности тонких пленок TiO₂, нанесенных на стеклянные подложки, была исследована атомно-силовой микроскопией и измерением контактного угла. Тестирование методом измерения контактного угла доказало улучшение гидрофильности пленок в экспериментах, проведенных с дополнительной подачей кислорода.uk_UA
dc.description.sponsorshipThis research was supported by the Czech Technical University in Prague Research Project CTU 0806213.uk_UA
dc.identifier.citationDeposition of TiO₂ thin films using atmospheric dielectric barrier discharge / Y. Klenko, J. Píchal // Вопросы атомной науки и техники. — 2008. — № 6. — С. 177-179. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1562-6016
dc.identifier.otherPACS: 52.77.-j
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110976
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherНаціональний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofВопросы атомной науки и техники
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectLow temperature plasma and plasma technologiesuk_UA
dc.titleDeposition of TiO₂ thin films using atmospheric dielectric barrier dischargeuk_UA
dc.title.alternativeНанесення тонких плiвок TiO₂ з використанням атмосферного дiелектричного бар’єрного розрядуuk_UA
dc.title.alternativeНанесение тонких пленок TiO₂ с использованием атмосферного диэлектрического барьерного разрядаuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
56-Klenko.pdf
Розмір:
459.06 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: