Структурні, електричні та магнеторезистивні властивості заміщених стронцієм манганітів лантану

Abstract

Досліджено структурні, електричні та магнеторезистивні властивості зразків La₁₋xSrxMnO₃ (х=0,15—0,60), виготовлених золь—ґель-методою. Кристалографічні параметри визначалися за допомогою рентґенівської дифракції. Вимірювання електричних властивостей виконувалися в температурному інтервалі 77—380 К як у магнетному полі, так і без нього. Проаналізовано температурні залежності електричних та магнеторезистивних властивостей сполуки при різних концентраціях Sr. Встановлено концентраційну залежність температури Кюрі ТС для сполуки La₁₋xSrxMnO₃.

Исследованы структурные, электрические и магниторезистивные свойства образцов La₁₋xSrxMnO₃ (х=0,15—0,60), изготовленных золь—гель-методом. Кристаллографические параметры определялись с помощью рентгеновской дифракции. Измерения электрических свойств выполнялись в температурном интервале 77—380 К как в магнитном поле, так и без него. Проанализированы температурные зависимости электрических и магниторезистивных свойств соединения с разными концентрациями Sr. Установлена концентрационная зависимость температуры Кюри ТС для соединения La₁₋xSrxMnO₃.

Structural, electrical, and magnetoresistive properties of La₁₋xSrxMnO₃ (х=0,15—0,60) samples fabricated by sol—gel method are studied. Crystallographic parameters are measured by X-ray diffraction technique. The measurements of electrical properties are carried out in the temperature range 77—380 K both in external magnetic field and without it. Temperature dependences of the electrical and magnetoresistive properties of compounds are analysed for different Sr concentrations. Concentration dependence of the Curie temperature ТС of La₁₋xSrxMnO₃ are determined.