The study of the dislocation resonance in LiF crystals under the influence of the low-dose X-irradiation

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorPetchenko, G.A.
dc.contributor.authorPetchenko, A.M.
dc.date.accessioned2018-06-14T16:50:56Z
dc.date.available2018-06-14T16:50:56Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationThe study of the dislocation resonance in LiF crystals under the influence of the low-dose X-irradiation / G.A. Petchenko, A.M. Petchenko // Functional Materials. — 2010. — Т. 17, № 4. — С. 421-424. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1027-5495
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135218
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherНТК «Інститут монокристалів» НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofFunctional Materials
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectCharacterization and propertiesuk_UA
dc.titleThe study of the dislocation resonance in LiF crystals under the influence of the low-dose X-irradiationuk_UA
dc.title.alternativeСпостереження ефекту гасіння дислокаційного резонансу в кристалах LiF під впливом малих доз рентгенівського опроміненняuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
02-Petchenko.pdf
Розмір:
203.33 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Functional Materials, 2010, № 4