XPS/ToF-SIMS Characterization of TiO₂ Supported Au Nanoparticles: Effect of Catalytic CO Oxidation

Abstract

С помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) и времяпролётной вторично-ионной масс-спектрометрии (ВП-ВИМС) проведено сравнительное исследование состава поверхности и электронной структуры катализатора Au/TiO₂ в свежеприготовленном состоянии и после его использования в реакции окисления CO при комнатной температуре.

За допомогою рентґенівської фотоелектронної спектроскопії (РФЕС) та часопролітної вторинно-іонної мас-спектрометрії (ЧП-ВІМС) проведено порівняльне дослідження складу поверхні й електронної структури каталізатора Au/TiO₂ у свіжоприготованому стані та після його використання у реакції окиснення CO за кімнатної температури.

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) are employed for a comparative study of the surface composition and electronic structure of an Au/TiO₂ catalyst in the asprepared state and after using it in the reaction of CO oxidation at room temperature.