Исследование фотоэлектрических и фотографических характеристик полупроводниковой фотографической системы ионизационного типа

dc.contributor.authorЮлдашев, Х.Т.
dc.contributor.authorХайдаров, Б.З.
dc.contributor.authorКасымов, Ш.С.
dc.date.accessioned2016-11-14T17:38:17Z
dc.date.available2016-11-14T17:38:17Z
dc.date.issued2015
dc.description.abstractПриведены экспериментальные результаты исследований вольт-амперных, люкс-амперных и фотографических характеристик полупроводниковой фотографической системы ионизационного типа со сверхтонкой газоразрядной ячейкой. В качества источника света использовался осветитель типа ОИ-24. Изменение интенсивности излучения, попадающего на вход системы, осуществлялось набором сеточных калиброванных фильтров. Рабочий диапазон спектра излучений и устранение фоновой засветки обеспечивались с помощью набора интерференционных и полупроводниковых светофильтров.uk_UA
dc.description.abstractНаведено експериментальні результати досліджень вольт-амперних, люкс-амперних і фотографічних характеристик напівпровідникової фотографічної системи іонізаційного типу з надтонким газорозрядним осередком. В якості джерела світла застосовувався освітлювач типу ОИ-24. Змінювання інтенсивності випромінювання, що потрапляє на вхід системи, здійснювалося набором сіткових каліброваних фільтрів. Робочий діапазон спектра випромінювань і усунення фонової засвітки забезпечувалися за допомогою набору інтерференційних і напівпровідникових світлофільтрів.uk_UA
dc.description.abstractIn work are brought results of the experimental studies of the current-voltage, photovoltaic and semiconductor ampere characteristics of photographic systems ionization type. The light source used illuminator OI-24 type. Changing the intensity of the radiation incident on the input of the system, carried out a set of grid calibrated filters. The working range of the spectrum of radiation and eliminating backlight were provided with a set of interference filters and semiconductor.uk_UA
dc.identifier.citationИсследование фотоэлектрических и фотографических характеристик полупроводниковой фотографической системы ионизационного типа / Х.Т. Юлдашев, Б.З. Хайдаров, Ш.С. Касымов // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 2. — С. 141-147. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn1999-8074
dc.identifier.udc621.393.3:621.382:621.385
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108711
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherНауковий фізико-технологічний центр МОН та НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofФизическая инженерия поверхности
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleИсследование фотоэлектрических и фотографических характеристик полупроводниковой фотографической системы ионизационного типаuk_UA
dc.title.alternativeДослідження фотоелектричних і фотографічних характеристик напівпровідникової фотографічної системи іонізаційного типуuk_UA
dc.title.alternativeThe study of photoelectric and photographic characteristics of semiconductor photographic system ionisation typeuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
03-YuldashevNEW.pdf
Розмір:
1.07 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: