Исследование фотоэлектрических и фотографических характеристик полупроводниковой фотографической системы ионизационного типа
| dc.contributor.author | Юлдашев, Х.Т. | |
| dc.contributor.author | Хайдаров, Б.З. | |
| dc.contributor.author | Касымов, Ш.С. | |
| dc.date.accessioned | 2016-11-14T17:38:17Z | |
| dc.date.available | 2016-11-14T17:38:17Z | |
| dc.date.issued | 2015 | |
| dc.description.abstract | Приведены экспериментальные результаты исследований вольт-амперных, люкс-амперных и фотографических характеристик полупроводниковой фотографической системы ионизационного типа со сверхтонкой газоразрядной ячейкой. В качества источника света использовался осветитель типа ОИ-24. Изменение интенсивности излучения, попадающего на вход системы, осуществлялось набором сеточных калиброванных фильтров. Рабочий диапазон спектра излучений и устранение фоновой засветки обеспечивались с помощью набора интерференционных и полупроводниковых светофильтров. | uk_UA |
| dc.description.abstract | Наведено експериментальні результати досліджень вольт-амперних, люкс-амперних і фотографічних характеристик напівпровідникової фотографічної системи іонізаційного типу з надтонким газорозрядним осередком. В якості джерела світла застосовувався освітлювач типу ОИ-24. Змінювання інтенсивності випромінювання, що потрапляє на вхід системи, здійснювалося набором сіткових каліброваних фільтрів. Робочий діапазон спектра випромінювань і усунення фонової засвітки забезпечувалися за допомогою набору інтерференційних і напівпровідникових світлофільтрів. | uk_UA |
| dc.description.abstract | In work are brought results of the experimental studies of the current-voltage, photovoltaic and semiconductor ampere characteristics of photographic systems ionization type. The light source used illuminator OI-24 type. Changing the intensity of the radiation incident on the input of the system, carried out a set of grid calibrated filters. The working range of the spectrum of radiation and eliminating backlight were provided with a set of interference filters and semiconductor. | uk_UA |
| dc.identifier.citation | Исследование фотоэлектрических и фотографических характеристик полупроводниковой фотографической системы ионизационного типа / Х.Т. Юлдашев, Б.З. Хайдаров, Ш.С. Касымов // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 2. — С. 141-147. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. | uk_UA |
| dc.identifier.issn | 1999-8074 | |
| dc.identifier.udc | 621.393.3:621.382:621.385 | |
| dc.identifier.uri | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108711 | |
| dc.language.iso | ru | uk_UA |
| dc.publisher | Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України | uk_UA |
| dc.relation.ispartof | Физическая инженерия поверхности | |
| dc.status | published earlier | uk_UA |
| dc.title | Исследование фотоэлектрических и фотографических характеристик полупроводниковой фотографической системы ионизационного типа | uk_UA |
| dc.title.alternative | Дослідження фотоелектричних і фотографічних характеристик напівпровідникової фотографічної системи іонізаційного типу | uk_UA |
| dc.title.alternative | The study of photoelectric and photographic characteristics of semiconductor photographic system ionisation type | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
Файли
Оригінальний контейнер
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- 03-YuldashevNEW.pdf
- Розмір:
- 1.07 MB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Контейнер ліцензії
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 817 B
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: