Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorМокрицкий, В.А.
dc.contributor.authorБанзак, О.В.
dc.contributor.authorВолосевич, В.П.
dc.date.accessioned2014-01-01T21:15:34Z
dc.date.available2014-01-01T21:15:34Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractОбнаружена стойкость основных пара-метров микросборок, предназначенных для измерения и стабилизации температуры первичных преобразователей неэлектрических величин, к воздействию быстрыми электронами и нейтронами. Показаны причины изменений некоторых параметров.uk_UA
dc.identifier.citationИсследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем / В.А. Мокрицкий, О.В. Банзак, В.П. Волосевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 4. — С. 14-15. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn2225-5818
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52439
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofТехнология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectЭлектронные средства: исследования, разработкиuk_UA
dc.titleИсследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхемuk_UA
dc.title.alternativeДослідження радіаційної стійкості гібридних інтегральних мікросхемuk_UA
dc.title.alternativeElectronic means: investigations, development Research of radiation stability of hybrid integrated microcircuitsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
03-Mokritsky.pdf
Розмір:
79.46 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2008, № 4