Влияние Ag на фазовые превращения и магнитные свойства в наноразмерных пленочных композициях Fe₅₀Pt₅₀ (15 нм)/Ag/Fe₅₀Pt₅₀(15 нм)/SiO₂/Si(001) при отжигах в вакууме

Abstract

Методами физического материаловедения (рентгеноструктурным фазовым анализом, атомно-силовой микроскопией, методами измерения магнитных свойств с помощью SQUID-магнитометра и метода MOKE, методом резистометрии) исследовано влияние толщины промежуточного слоя Ag в наноразмерной плёночной композиции (НПК) Fe₅₀P₅₀ (15 нм)/Ag (x нм)/Fe₅₀Pt₅₀ (15 нм) (где х = 0, 3, 30 нм) на подложках SiO₂ (100 нм)/Si(001) на процессы диффузионного фазообразования – переход химически неупорядоченной магнитно-мягкой фазы А1(FePt)ГЦК в химически упорядоченную магнитно-твёрдую фазу L10(FePt)ГЦТ при отжигах в вакууме

Методами фізичного матеріалознавства (рентгеноструктурним фазовим аналізом, атомно-силовою мікроскопією, методами вимірювання магнітних властивостей за допомогою SQUID-магнітометра і методу MOKE, методом резистометрії) досліджено вплив товщини проміжного шару Ag в нанорозмірній плівковій композиції (НПК) Fe₅₀Pt₅₀ (15 нм)/Ag (х нм)/Fe₅₀Pt₅₀ (15 нм) (де х = 0, 3, 30 нм) на підкладках SiO₂ (100 нм)/Si(001) на процеси дифузійного фазоутворення – перехід хімічно невпорядкованої магнітом’якої фази А1(FePt)ГЦК у хімічно впорядковану магнітотверду фазу L10(FePt)ГЦТ при відпалі у вакуумі.

Effect of Ag intermediate layer thickness in nanoscaled Fe₅₀Pt₅₀ (15 nm)/Ag(x nm)/Fe₅₀Pt₅₀ (15 nm) (where х = 0, 3, 30 nm) film composition (NFC) on SiO₂ (100 nm)/Si(001) substrates on the diffusion phase formation processes, i. e., transformation of chemically disordered soft-magnetic А1(FePt)FCC phase into chemically ordered hard-magnetic L10(FePt)FCT phase at annealing in vacuum, is investigated by physical materials science methods: X-ray diffraction, atomic-force microscopy, magnetic properties measurements by SQUIDmagnetometer and MOKE method, resistometry.