Экранирование электростатического потенциала в системе композитных фермионов

dc.contributor.authorФиль, Д.В.
dc.date.accessioned2021-02-06T19:41:05Z
dc.date.available2021-02-06T19:41:05Z
dc.date.issued1998
dc.description.abstractРассмотрено экранирование электрического поля пробного заряда монослойной и двухслойной системой композитных фермионов с учетом влияния границы образца. Показано, что в системе имеет место частичная экранировка поля пробного заряда на расстояниях много больших магнитной длины. Величина экранировки как функция расстояния существенным образом зависит от фактора заполнения. Для двухслойной системы найден эффект изменения величины экранировки при переходе системы в состояние, описываемое волновой функцией Гальперина.uk_UA
dc.description.abstractРозглянуто екранування електричного поля пробного заряду моношаровою та двошаровою системою композитних ферміонів з урахуванням впливу межи зразку. Показано, що в системі трапляється часткове екранування поля пробного заряду на відстанях значно більших магнітної довжини. Величина екранування як функція відстані суттєвим чином залежить від фактора заповнення. Для двошарової системи знайдено ефект зміни величини екранування при переході системи у стан, що описано хвильовою функцією Гальперіна.uk_UA
dc.description.abstractScreening of the electric field of a test charge by monolayer and double-layer composite fermion systems is considered taking into account the influence of the sample boundary. It is shown that the test charge field is partly screened in the system at distances much larger than the magnetic length. The value of screening as a function of distance depends considerably on the filling factor. The effect of variation of the value of screening in a double-layer system upon a transition to a state described by the Halperin wave function is determined.uk_UA
dc.identifier.citationЭкранирование электростатического потенциала в системе композитных фермионов / Д.В. Филь // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 12. — С. 1146-1150. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn0132-6414
dc.identifier.otherPACS: 73.40.Hm
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/176686
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherФізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofФизика низких температур
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectЭлектpонные свойства металлов и сплавовuk_UA
dc.titleЭкранирование электростатического потенциала в системе композитных фермионовuk_UA
dc.title.alternativeScreening of electrostatic potential in a composite fermion systemuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
03-Fil.pdf
Розмір:
213.18 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: