X-ray dosimetry of copper-doped CdGa₂S₄ single crystals
dc.contributor.author | Mustafaeva, S.N. | |
dc.contributor.author | Asadov, M.M. | |
dc.contributor.author | Guseinov, D.T. | |
dc.date.accessioned | 2017-05-31T05:23:35Z | |
dc.date.available | 2017-05-31T05:23:35Z | |
dc.date.issued | 2012 | |
dc.description.abstract | Comparative analysis of the X-ray dosimetric characteristics of CdGa₂S₄ and CdGa₂S₄<Cu> single crystals demonstrates that after copper-doping the persistence of the crystal characteristics completely disappears. The current-dose characteristics Ir ~ E tend to linearity (α = 1) at low dose rates of X-rays. At high dose rates, α tends to 0.5, which testifies to the mechanism of quadratic recombination of charge carriers generated by X-rays in CdGa₂S₄<Cu>. | uk_UA |
dc.identifier.citation | X-ray dosimetry of copper-doped CdGa₂S₄ single crystals / S.N. Mustafaeva, M.M. Asadov, D.T. Guseinov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2012. — Т. 15, № 4. — С. 358-359. — Бібліогр.: 4 назв. — англ. | uk_UA |
dc.identifier.issn | 1560-8034 | |
dc.identifier.udc | PACS 71.20.Nr, 72.15.Cz, 72.20.Jv, 72.80.Jc | |
dc.identifier.uri | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118727 | |
dc.language.iso | en | uk_UA |
dc.publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України | uk_UA |
dc.relation.ispartof | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics | |
dc.status | published earlier | uk_UA |
dc.title | X-ray dosimetry of copper-doped CdGa₂S₄ single crystals | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Файли
Оригінальний контейнер
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- 10-Mustafaeva.pdf
- Розмір:
- 870.05 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Контейнер ліцензії
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 817 B
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: