Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта

dc.contributor.authorРоженко, Н.М.
dc.contributor.authorГригорьєв, О.М.
dc.contributor.authorКартузов, В.В.
dc.date.accessioned2019-04-07T11:53:42Z
dc.date.available2019-04-07T11:53:42Z
dc.date.issued2019
dc.description.abstractПредставлено узагальнення методів моментів та Холла—Вільямсона, що не потребує апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій та враховує характер функції розсіювання через наявність областей когерентного розсіювання. Розроблений підхід базується на формі відновленого із застосуванням методу регуляризації Тихонова повного фізичного профілю і дозволяє визначати функцію щільності розподілу мікродеформацій.uk_UA
dc.description.abstractПредставлено обобщение методов моментов и Холла—Вильямсона, не нуждающееся в априорных предположениях относительно закона распределения микродеформаций и учитывающее характер функции рассеивания из-за наличия областей когерентного рассеивания. Разработанный подход базируется на анализе формы восстановленного с применением метода регуляризации Тихонова полного физического профиля и позволяет определять функцию плотности распределения микродеформаций.uk_UA
dc.description.abstractGeneralizations of the method of moments and the Hall—Williamson one are presented without apriori assumptions about the distribution law for microstrains with regard for the nature of a dispersion function due to the presence of coherent scattering. The developed approach is based on the analysis of the shape of the complete physical profile restored using the Tikhonov regularization method and allows one to determine the distribution function of microstrains.uk_UA
dc.identifier.citationМетод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта / Н.М. Роженко, О.М. Григорьєв, В.В. Картузов // Доповіді Національної академії наук України. — 2019. — № 1. — С. 47-54. — Бібліогр.: 15 назв. — укр.uk_UA
dc.identifier.issn1025-6415
dc.identifier.otherDOI: doi.org/10.15407/dopovidi2019.01.047
dc.identifier.udc519.642:539.261
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/150467
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherВидавничий дім "Академперіодика" НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofДоповіді НАН України
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectМатеріалознавствоuk_UA
dc.titleМетод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єктаuk_UA
dc.title.alternativeМетод анализа формы дифракционных линий, не требующий перехода к пространству объектаuk_UA
dc.title.alternativeA method of analysis of the shapes of X-ray diffraction lines not requiring a transition to the space of an objectuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
09-Rozhenko.pdf
Розмір:
169.84 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: