Голографическая интерферометрия динамики газоплазменного факела

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorТолстолуцкий, А.Г.
dc.contributor.authorУваров, В.В.
dc.contributor.authorПоддубко, Н.С.
dc.contributor.authorКлепиков, В.Ф.
dc.contributor.authorЛитвиненко, В.В.
dc.contributor.authorПономарев, А.Г.
dc.contributor.authorРак, О.Л.
dc.date.accessioned2017-01-08T20:32:52Z
dc.date.available2017-01-08T20:32:52Z
dc.date.issued2003
dc.description.abstractМетодом голографической интерферометрии исследована динамика газоплазменного факела, образованного при воздействии трубчатого РЭП на мишень из сплава 12Х18Н10Т. Определено, что максимум плотности частиц в ГПФ сосредоточен над поверхностью мишени на расстоянии 1…2 мм. Показано, что в процессе разлета на оси системы образуется зона фокусировки части массы ГПФ, в которой температура и плотность частиц имеют большие значения, чем в окружающем ее пространстве. Определены размеры, форма и местоположение этой зоны.uk_UA
dc.identifier.citationГолографическая интерферометрия динамики газоплазменного факела / А.Г. Толстолуцкий, В.В. Уваров, Н.С. Поддубко, В.Ф. Клепиков, В.В. Литвиненко, А.Г. Пономарев, О.Л. Рак // Вопросы атомной науки и техники. — 2003. — № 4. — С. 313-318. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn1562-6016
dc.identifier.udc79.20.Kz.
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111235
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherНаціональний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofВопросы атомной науки и техники
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectПриложения и технологииuk_UA
dc.titleГолографическая интерферометрия динамики газоплазменного факелаuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
68-Tolstolutskii.pdf
Розмір:
1.5 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Вопросы атомной науки и техники, 2003, № 4