Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности

Abstract

Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флуктуации электромагнитного поля и параметра порядка сверхпроводящей фазы.

Одержано експериментальні залежності критичної температури надпровідного переходу від товщини плівок ніобію, VN, TaN та YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, що в надпровідниках з малою довжиною когерентності певну роль у зниженні критичної температури нарівні з ефектом близькості можуть грати флуктуації електромагнітного поля і параметра надпровідного порядку.

The dependence of the superconducting transition temperature on the thickness of films of niobium, VN, TaN, and YBa₂Cu₃O₇₋x are determined experimentally. It is shown that, in addition to the proximity effect, the fluctuations of the electromagnetic field and order parameter of the superconducting phase may also play a significant role in superconductors with a small coherence length.