Comparison of the quality of Bi₁₂GeO₂₀ crystals grown by the conventional and low-temperature-gradient Czochralski techniques

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorShlegel, V.N.
dc.contributor.authorPantsurkin, D.S.
dc.date.accessioned2018-06-14T16:51:19Z
dc.date.available2018-06-14T16:51:19Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationComparison of the quality of Bi₁₂GeO₂₀ crystals grown by the conventional and low-temperature-gradient Czochralski techniques / V.N. Shlegel, D.S. Pantsurkin // Functional Materials. — 2010. — Т. 17, № 4. — С. 509-514. — Бібліогр.: 17 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1027-5495
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135222
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherНТК «Інститут монокристалів» НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofFunctional Materials
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectTechnologyuk_UA
dc.titleComparison of the quality of Bi₁₂GeO₂₀ crystals grown by the conventional and low-temperature-gradient Czochralski techniquesuk_UA
dc.title.alternativeПорівняння якості кристалів Bi₁₂GeO₂₀, вирощених традиційним і низькоградієнтнім методом Чохральськогоuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
18-Shlegel.pdf
Розмір:
2.23 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Functional Materials, 2010, № 4