Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЖарков, И.П.
dc.contributor.authorИващенко, А.Н.
dc.contributor.authorРуденко, Э.М.
dc.contributor.authorКороташ, И.В.
dc.contributor.authorКраковный, А.А.
dc.contributor.authorСафронов, В.В.
dc.contributor.authorХодунов, В.А.
dc.contributor.authorРуденко, А.Э.
dc.date.accessioned2017-03-06T14:48:07Z
dc.date.available2017-03-06T14:48:07Z
dc.date.issued2013
dc.description.abstractРазработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами.uk_UA
dc.description.abstractРозроблено новий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії з мінімальними тепловими шумами й збільшеним відношенням сигнал/шум, в якому використано азотний заливний кріостат, що переміщається, із вмонтованими в нього активними мікрохвильовими елементами.uk_UA
dc.description.abstractThe new device for microwave non-destructive defectoscopy with minimum thermal noises and increased signal / noise ratio, which used scanning nitrogen filled cryostat with integrated active microwave elements, is designed.uk_UA
dc.description.sponsorshipРабота выполнена в рамках Программы научного приборостроения НАН Украины.uk_UA
dc.identifier.citationНизкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn1815-2066
dc.identifier.otherDOI: doi.org/10.15407/scin9.03.013
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114309
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherВидавничий дім "Академперіодика" НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofНаука та інновації
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectНаукові основи інноваційної діяльностіuk_UA
dc.titleНизкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопииuk_UA
dc.title.alternativeНизькотемпературний скануючий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопіїuk_UA
dc.title.alternativeThe Low-Temperature Device for Microwave Non-Destructive Defectoscopyuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
03-Zharkov.pdf
Розмір:
298.85 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Наука та інновації, 2013, № 3