Silicon crystal strength reduction due to magnetoresonance

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorMakara, V.A.
dc.contributor.authorPogorilyi, A.M.
dc.contributor.authorSteblenko, L.P.
dc.contributor.authorKuryliuk, A.M.
dc.contributor.authorNaumenko, S.M.
dc.contributor.authorKobzar, Yu.L.
dc.contributor.authorKravets, A.F.
dc.contributor.authorPodyalovsky, D.I.
dc.contributor.authorMatveeva, O.V.
dc.date.accessioned2018-06-16T13:06:25Z
dc.date.available2018-06-16T13:06:25Z
dc.date.issued2007
dc.description.abstractThe magnetoresonance influence as well as the micrawave superhigh-frequency (SHF) magnetic field effect on the microhardness of silicon crystals has been studied. It is established that the action of SHF field results in decreasing microhardness, which does not relax for initial value during a long time (50 days). A mechanism has been suggested for the revealed effects.uk_UA
dc.identifier.citationSilicon crystal strength reduction due to magnetoresonance / V.A. Makara, A.M. Pogorilyi, L.P. Steblenko, A.M. Kuryliuk, S.M. Naumenko, Yu.L. Kobzar, A.F. Kravets, D.I. Podyalovsky, O.V. Matveeva // Functional Materials. — 2007. — Т. 14, № 2. — С. 192-194. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1027-5495
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136494
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherНТК «Інститут монокристалів» НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofFunctional Materials
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleSilicon crystal strength reduction due to magnetoresonanceuk_UA
dc.title.alternativeМагніторезонансне знеміцнення кристалів кремніюuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
07-Makara.pdf
Розмір:
174.51 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Functional Materials, 2007, № 2