Зависимости изменения концентрации избыточных электронов (Δn) от переменной деформации (ε) в полупроводниках

dc.contributor.authorГулямов, Г.
dc.contributor.authorДадамирзаев, М.Г.
dc.date.accessioned2016-11-05T21:34:29Z
dc.date.available2016-11-05T21:34:29Z
dc.date.issued2014
dc.description.abstractПоказано влияние амплитуды и частоты деформации на площади фазовых траекторий в двухмерном (ne-ε) пространстве. Размеры фазовых траекторий сильно зависят от амплитуды и частоты деформации приложенной к образцу. При уменьшении амплитуды деформации размеры фазовых траекторий уменьшаются как по высоте, так и по ширине. Вследствие этого изменяются концентрации электронов. При увеличении частоты деформации уменьшается фазовая траектория. Вследствие этого уменьшается изменение концентрации электронов.uk_UA
dc.description.abstractПоказано вплив амплітуди і частоти деформації на площі фазових траєкторій у двовимірному (ne-ε) просторі. Розміри фазових траєкторій сильно залежать від амплітуди і частоти деформації прикладеної до зразка. При зменшенні амплітуди деформації розміри фазових траєкторій зменшуються як за висотою, так і за шириною. Внаслідок цього змінюються концентрації електронів. При збільшенні частоти деформації зменшується фазова траєкторія. Внаслідок цього зменшується змінювання концентрації електронів.uk_UA
dc.description.abstractShows the influence of the amplitude and frequency of the strain on the area of the phase trajectories in the two-dimensional (ne-ε) space. The dimensions of the phase trajectory is strongly dependent on the amplitude and frequency of the strain applied to the sample. With decreasing strain amplitude dimensions of the phase trajectories is reduced both in height and width. Due to the change of the electron concentration. By increasing the frequency of deformation decreases the phase trajectory. Because of this change in the electron density decreases.uk_UA
dc.identifier.citationЗависимости изменения концентрации избыточных электронов (Δn) от переменной деформации (ε) в полупроводниках / Г. Гулямов, М.Г. Дадамирзаев // Физическая инженерия поверхности. — 2014. — Т. 12, № 4. — С. 510-514. — Бібліогр.: 7 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn1999-8074
dc.identifier.udc621.362.1
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108496
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherНауковий фізико-технологічний центр МОН та НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofФизическая инженерия поверхности
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleЗависимости изменения концентрации избыточных электронов (Δn) от переменной деформации (ε) в полупроводникахuk_UA
dc.title.alternativeЗалежності змінювання концентрації надлишкових електронів (Δn) від змінної деформації (ε) у напівпровідникахuk_UA
dc.title.alternativeThe dependence of the concentration of excess electrons (Δn) from variable strain (ε) in semiconductorsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
06-GuliamovNEW.pdf
Розмір:
1.08 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: