The influence of an electron beam on the frequency of appearance of modifications and mutagens in the residual florula

dc.contributor.authorAntipov, V.S.
dc.contributor.authorBabych, E.M.
dc.contributor.authorBerezhna, I.V.
dc.contributor.authorHirna, T.V.
dc.contributor.authorKornilov, E.O.
dc.contributor.authorKiselev, V.A.
dc.contributor.authorLinnik, A.F.
dc.contributor.authorSklar, N.I.
dc.contributor.authorUskov, V.V.
dc.date.accessioned2015-03-22T08:22:34Z
dc.date.available2015-03-22T08:22:34Z
dc.date.issued2006
dc.description.abstractWe have carried out a series of tests for studying an electron beam (Е=4 МеV) influence on adaptive mutability test cultures of the sanitary-model microflora in various regimes (0.4…3.2 kGy) of processing samples of natural water and sewages. Mutafacient properties and modifications of the residual microflora stimulated by the electron beam effect are scarcely pronounced. They do not indicate themselves in the regimes that guarantee the water purification up to the indices stipulated by the corresponding standards.uk_UA
dc.description.abstractПроведен цикл экспериментов по влиянию электронного пучка (Е=4 МеV) на адаптивную изменчивость тест-культур санитарно-показательной микрофлоры в условиях разных режимов (0,4…3,2 кГр) обработки проб природных и сточных вод. Установлено, что мутагенные свойства и модификация остаточной микрофлоры после воздействия электронного пучка имеют слабо выраженный характер и не проявляются в режимах, которые обеспечивают очистку воды до санитарных норм.uk_UA
dc.description.abstractПроведено цикл експериментів по впливу електронного пучка (Е=4 МеВ) на адаптивну мінливість тест- культур санітарно-показової мікрофлори в умовах різних режимів (0,4…3,2 кГр) обробки проб природних та стічних вод. Встановлено, що мутагенні властивості та модифікація залишкової мікрофлори після впливу електронного пучка мають слабко виражений характер і не проявляються в режимах, що забезпечують очистку води до санітарних норм.uk_UA
dc.description.sponsorshipThe work is fulfilled within Project #1971 under the financial support given by STCU.uk_UA
dc.identifier.citationThe influence of an electron beam on the frequency of appearance of modifications and mutagens in the residual florula / V.S. Antipov, E.M. Babych, I.V. Berezhna, T.V. Hirna, E.O. Kornilov, V.A. Kiselev, A.F. Linnik, N.I. Sklar, V.V. Uskov // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 2. — С. 198-200. — Бібліогр.: 2 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1562-6016
dc.identifier.otherPACS: 87.23.-n
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/78850
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherНаціональний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofВопросы атомной науки и техники
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectПрименение ускорителей в радиационных технологияхuk_UA
dc.titleThe influence of an electron beam on the frequency of appearance of modifications and mutagens in the residual florulauk_UA
dc.title.alternativeИзучение частоты появления модификаций и мутагенных вариантов остаточной микрофлоры под влиянием ее обработки электронным пучкомuk_UA
dc.title.alternativeВивчення частоти появи модифікацій та мутагенних варіантів залишкової мікрофлори під впливом її обробки електронним пучкомuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
67-Antipov.pdf
Розмір:
155.37 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Стаття

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: