Влияние термообработки на электрофизические свойства CdZnTe-детекторов γ-излучения

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorКутний, В.Е.
dc.contributor.authorКутний, Д.В.
dc.contributor.authorРыбка, А.В.
dc.contributor.authorАбызов, А.С.
dc.contributor.authorДавыдов, Л.Н.
dc.contributor.authorНаконечный, Д.В.
dc.contributor.authorШляхов, И.Н.
dc.date.accessioned2014-01-22T23:45:35Z
dc.date.available2014-01-22T23:45:35Z
dc.date.issued2005
dc.description.abstractРассмотрено влияние термообработки (ТО) на вольт-амперные и спектрометрические характеристики детекторов γ-излучения из соединения Cd₀,₉Zn₀,₁Te p-типа. Определен оптимальный режим ТО.uk_UA
dc.identifier.citationВлияние термообработки на электрофизические свойства CdZnTe-детекторов γ-излучения / В.Е. Кутний, Д.В. Кутний, А.В. Рыбка, А.С. Абызов, Л.Н. Давыдов, Д.В. Наконечный, И.Н. Шляхов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2005. — № 3. — С. 12-15. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn2225-5818
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/53566
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofТехнология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectФункциональная микроэлектроникаuk_UA
dc.titleВлияние термообработки на электрофизические свойства CdZnTe-детекторов γ-излученияuk_UA
dc.title.alternativeВплив термообробки на електрофізичні властивості CdZnTe-детекторів γ-випромінюванняuk_UA
dc.title.alternativeThe influence of heat treatment on electrophysical properties of CdZnTe gamma-radiation detectorsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
04-Kutnyi.pdf
Розмір:
98.93 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2005, № 3