Закономерности деградации светоизлучающих диодов

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorВикулин, И.М.
dc.contributor.authorИрха, В.И.
dc.contributor.authorКоробицын, Б.В.
dc.contributor.authorГорбачев, В.Э.
dc.date.accessioned2014-01-27T18:27:29Z
dc.date.available2014-01-27T18:27:29Z
dc.date.issued2004
dc.description.abstractПредложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве.uk_UA
dc.identifier.citationЗакономерности деградации светоизлучающих диодов / И.М. Викулин, В.И. Ирха, Б.В. Коробицын, В.Э. Горбачев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 2. — С. 55-56. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn2225-5818
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/53801
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofТехнология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectКонтроль. Качество. Надежностьuk_UA
dc.titleЗакономерности деградации светоизлучающих диодовuk_UA
dc.title.alternativeЗакономірності деградації світловипромінюючих діодівuk_UA
dc.title.alternativeLegitimacies of a degradation of light-emitting diodesuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
14-Vikulin.pdf
Розмір:
111.85 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2004, № 2