Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorСорокин, В.М.
dc.contributor.authorЗелинский, Р.Я.
dc.contributor.authorРыбалочка, А.В.
dc.contributor.authorОлийник, А.С.
dc.date.accessioned2013-12-30T23:14:42Z
dc.date.available2013-12-30T23:14:42Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractДля научных центров и предприятий России, Белоруссии и Украины оптимален комплекс СМ-100, разработанный в Институте физики полупроводников НАН Украины.uk_UA
dc.identifier.citationИзмерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев / В.М. Cорокин, Р.Я. Зелинский, А.В. Рыбалочка, А.С. Олийник // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 1. — С. 48-53. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn2225-5818
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52393
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofТехнология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectТехнологические процессы и оборудованиеuk_UA
dc.titleИзмерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеевuk_UA
dc.title.alternativeВимірювально-окислювальний комплекс СМ-100 для характеризації рідкокристалічних дисплеївuk_UA
dc.title.alternativeDisplay measuring system CM-100 for LCD characterizationuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
11-Sorokin.pdf
Розмір:
246.52 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2008, № 1