Нейросетевая технология идентификации при диагностировании транзисторов на основе «предвестников» отказов

Abstract

В статье рассматривается проблема автоматизированного диагностирования транзисторов на основе сигнализирующих о возникновении их дефектов «предвестников» отказов. Предлагается информационная технология идентификации при диагностировании этих изделий на основе нейронных сетей.

У статті розглядається проблема автоматизованого діагностування транзисторів на базі «попередників» відмов. Запропоновано інформаційну технологію ідентифікації при діагностуванні цих виробів на базі нейронних кіл.

The paper is devoted to the problem of the transistors automated diagnostics in the refusal «forecast» base. The information technology of identification in the neuron nets base for these transistors is proposed.