Парофазные конденсаты в системах Cu-W(Mo, Cr). Cтруктура, свойств

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorГречанюк, Н.И.
dc.contributor.authorМинакова, Р.В.
dc.contributor.authorХоменко, Е.В.
dc.contributor.authorКопылова, Г.Е.
dc.contributor.authorГоловкова, М.Е.
dc.contributor.authorБухановский, В.В.
dc.contributor.authorРудницкий, Н.П.
dc.contributor.authorЯрош, Т.Л.
dc.date.accessioned2011-03-05T22:45:04Z
dc.date.available2011-03-05T22:45:04Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractПроведены сравнительные исследования структурообразования композиционных материалов (КМ) на основе меди и металлов VIа группы при изготовлении этих КМ методом электронно-лучевого испарения-конденсации. Установлен характер фазообразования в системах медь—хром, медь—молибден, медь—вольфрам в неравновесных условиях высокоскоростного процесса испарения-конденсации. Изучены дефекты структуры, обусловленные технологией получения толстых конденсатов, и особенности их влияния на механические свойства исследуемых композитов.uk_UA
dc.identifier.citationПарофазные конденсаты в системах Cu-W(Mo, Cr). Cтруктура, свойств / Н.И. Гречанюк, Р.В. Минакова, Е.В. Хоменко, Г.Е. Копылова, М.Е. Головкова, В.В. Бухановский, Н.П. Рудницкий, Т.Л. Ярош // Электронная микроскопия и прочность материалов: Сб. научн . тр. — К.: ІПМ НАН України, 2009. — Вип. 16. — С. 16-31. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issnXXXX-0048
dc.identifier.udc669.187.001.2
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/17676
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН Україниuk_UA
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleПарофазные конденсаты в системах Cu-W(Mo, Cr). Cтруктура, свойствuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
02-Grechanyuk.pdf
Розмір:
1.49 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
929 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Электронная микроскопия и прочность материалов, 2009, вип. 16