Multi-channel electronics for secondary emission grid profile monitor of TTF linac

dc.contributor.authorReingardt-Nikoulin, P.
dc.contributor.authorGaidash, V.
dc.contributor.authorMirzojan, A.
dc.contributor.authorNovikov-Borodin, A.
dc.date.accessioned2015-03-24T11:15:20Z
dc.date.available2015-03-24T11:15:20Z
dc.date.issued2004
dc.description.abstractAccording to theTTF beam experimental program, a measurement of the time dependence of the energy spread within the bunch train should be done by means of a standard device for profile measurements, that is Secondary Emission Grid (SEMG). SEMG on the high-energy TTF beam is placed in the focal plane of the magnet spectrometer. It should measure the total energy spread in the range from 0.1% up to a few percents for any single or any group of electron bunches in the bunch train of TTF Linac. SEMG Profile measurements with new high sensitive electronics are described. Beam results of SEMG Monitor test are given for two modifications of an electronic preamplifier.uk_UA
dc.description.abstractВідповідно до експериментальної програми тестового лінійного прискорювача TTF вимір часової залежності енергетичного розкиду прискорених електронів уздовж макроімпульсу буде зроблено за допомогою стандартного приладу для виміру профілю пучка – багатодротової повторно-емісійної камери (ВЕММ). ВЕММ на пучку високої енергії прискорювача TTF розташований у фокальній площині магнітного спектрометра і буде вимірювати енергетичний розкид прискорених електронів у діапазоні від 0,1% до декількох відсотків. У роботі викладаються виміри профілю пучка повторно-емісійної багатодротовой камерою з новою високочутливою електронікою. Результати іспитів ВЕММ на пучку прискорювача TTF і їхнє обговорення дано для двох модифікацій електронних передпідсилювачів.uk_UA
dc.description.abstractВ соответствии с экспериментальной программой тестового линейного ускорителя TTF измерение временной зависимости энергетического разброса ускоренных электронов вдоль макроимпульса должно производиться с помощью стандартного прибора для измерения профиля пучка – многопроволочной вторичноэмиссионной камеры (ВЭММ). ВЭММ на пучке высокой энергии ускорителя TTF расположен в фокальной плоскости магнитного спектрометра и должен измерять энергетический разброс ускоренных электронов в диапазоне от 0,1% до нескольких процентов. В работе излагаются измерения профиля пучка вторично-эмиссионной многопроволочной камерой с новой высокочувствительной электроникой. Результаты испытаний ВЭММ на пучке ускорителя TTF и их обсуждение приводятся для двух модификаций электронных предусилителей.uk_UA
dc.description.sponsorshipGreat thanks to B. Faatz, A. Fateev, O. Hensler, K. Rehlich, E. Schneidmiller and S. Schreiber for fruitful discussion and help in this work.uk_UA
dc.identifier.citationMulti-channel electronics for secondary emission grid profile monitor of TTF linac / P. Reingardt-Nikoulin, V. Gaidash, A. Mirzojan, A. Novikov-Borodin // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 1. — С. 97-100. — Бібліогр.: 2 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1562-6016
dc.identifier.otherPACS:29.27.Fh
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/78954
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherНаціональний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofВопросы атомной науки и техники
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectЭлементы ускорителейuk_UA
dc.titleMulti-channel electronics for secondary emission grid profile monitor of TTF linacuk_UA
dc.title.alternativeБагатоканальна електроніка для повторно-емісійного багатодротового монітора профілю пучка лінійного прискорювача TTFuk_UA
dc.title.alternativeМногоканальная электроника для вторично-эмиссионного многопроволочного монитора профиля пучка линейного ускорителя TTFuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
32-Reingardt-Nikoulin.pdf
Розмір:
340.47 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: