Degradation processes in LED modules

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorSorokin, V.M.
dc.contributor.authorKudryk, Ya.Ya.
dc.contributor.authorShynkarenko, V.V.
dc.contributor.authorKudryk, R.Ya.
dc.contributor.authorSai, P.O.
dc.date.accessioned2017-06-14T17:19:46Z
dc.date.available2017-06-14T17:19:46Z
dc.date.issued2016
dc.description.abstractElectrical-heat-light degradation model of a light-emitting module has been developed in this work. The Monte-Carlo method was used to calculate the reliability time of LED modules with different halfwidth of LED chip series resistance. Separation of LED chips with different series resistance before assembling may increase the time of emission in a stable mode up to 10%.uk_UA
dc.identifier.citationDegradation processes in LED modules / V.M. Sorokin, Ya.Ya. Kudryk, V.V. Shynkarenko, R.Ya. Kudryk, P.O. Sai // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2016. — Т. 19, № 3. — С. 248-254. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1560-8034
dc.identifier.otherDOI: 10.15407/spqeo19.03.248
dc.identifier.otherPACS 44.05.+e, 02.70.Rr, 42.72.-g
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/121585
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofSemiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleDegradation processes in LED modulesuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
02-Sorokin.pdf
Розмір:
839.18 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2016, № 3