Источник многозарядных ионов для установки «Сокол» (стендовые испытания)

dc.contributor.authorКарпусь, С.Г.
dc.date.accessioned2017-01-08T12:35:19Z
dc.date.available2017-01-08T12:35:19Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractПредставлено описание конструкции источника многозарядных ионов (ИМИ) и результаты предварительных стендовых испытаний. Исследованы следующие характеристики ИМИ: зависимость тока разряда (Ip) и суммарного тока (It) ионов, извлекаемых из источника, от потенциала анода при постоянном напуске рабочего газа; зависимость Ip и It от величины напуска рабочего газа при фиксированном потенциале анода; определен зарядовый состав ионов пучка и соотношение между токами ионов различной зарядности; выбрана оптимальная оптическая система первичного формирования пучка на основе измерения профилей пучка, определения радиусов пучка и углов расходимости.uk_UA
dc.description.abstractПредставлено конструкцію джерела багатозарядних іонів (ДБІ) та результати попередніх стендових випробувань. Досліджено наступні характеристики ДБІ: залежність струму розряду (Ip) та загального струму (It) іонів, отриманого з джерела, від потенціалу анода при постійному напуску робочого газу; залежність Ip і It від величини напуску робочого газу при фіксованому потенціалі анода; визначено зарядовий склад іонів пучка та співвідношення між струмами іонів різного заряду; вибрана оптимальна оптична система первинного формування пучка на основі виміряних профілів пучка, визначених радіусів пучка та кутів розходження.uk_UA
dc.description.abstractThe design description of multiply charged ions source (MIS) and results of preliminaries bench tests are presented. Such characteristics of MIS were studied: dependence of the discharge current (Id) and total ion current (It), which were extracted from the source, on the anode potential for constant gas flow; dependence of Id and It on the value of gas flow for constant anode potential; charge distribution of ion beam and ratio between charges states of ions were determined; optimal optic system for primary formation of ion beam on the base of measured ion beam profiles, radiuses of ion beam and angles of divergence, was chosen.uk_UA
dc.description.sponsorshipАвтор выражает благодарность коллективу сотрудников за активное участие в организации проведенных исследований, а также в обработке и обсуждении полученных результатов, а именно: Пистряку В.М., Кузьменко В.В., Зацу А.В. и Глазунову Л.С.uk_UA
dc.identifier.citationИсточник многозарядных ионов для установки «Сокол» (стендовые испытания) / С.Г. Карпусь // Вопросы атомной науки и техники. — 2009. — № 2. — С. 198-201. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn1562-6016
dc.identifier.udc621.384.65.038.612
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111126
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherНаціональний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofВопросы атомной науки и техники
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectФизика радиационных и ионно-плазменных технологийuk_UA
dc.titleИсточник многозарядных ионов для установки «Сокол» (стендовые испытания)uk_UA
dc.title.alternativeДжерело багатозарядних іонів для установки «Сокол» (стендові випробування)uk_UA
dc.title.alternativeIon source of multiply charged ions for the “Sokol” facility (bench tests)uk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
33-Karpus.pdf
Розмір:
543.3 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: