Влияние радиационно-индуцированных эффектов на радиационную стойкость кремниевых МОП-структур
dc.contributor.author | Гаджиев, Э.М. | |
dc.contributor.author | Гусейнов, Я.Ю. | |
dc.contributor.author | Исмайлов, Н.М. | |
dc.contributor.author | Касимов, Ф.Д. | |
dc.date.accessioned | 2014-11-15T10:46:28Z | |
dc.date.available | 2014-11-15T10:46:28Z | |
dc.date.issued | 2001 | |
dc.description.abstract | Исследовано влияние γ-излучения на параметры границы раздела Si-SiO₂ МОП-структур в зависимости от технологических режимов их получения. | uk_UA |
dc.identifier.citation | Влияние радиационно-индуцированных эффектов на радиационную стойкость кремниевых МОП-структур / Э.М. Гаджиев, Я.Ю. Гусейнов, Н.М. Исмайлов, Ф.Д. Касимов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 2. — С. 28-30. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. | uk_UA |
dc.identifier.issn | 2225-5818 | |
dc.identifier.udc | 621.315.592 | |
dc.identifier.uri | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70837 | |
dc.language.iso | ru | uk_UA |
dc.publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України | uk_UA |
dc.relation.ispartof | Технология и конструирование в электронной аппаратуре | |
dc.status | published earlier | uk_UA |
dc.subject | Качество. Надежность | uk_UA |
dc.title | Влияние радиационно-индуцированных эффектов на радиационную стойкость кремниевых МОП-структур | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Файли
Оригінальний контейнер
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- 05-Gadzhiev.pdf
- Розмір:
- 203.99 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Контейнер ліцензії
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 817 B
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: