Определение параметров уровней прилипания, ответственных за фотоэлектретное состояние в пленках теллурида кадмия

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorНабиев, Г.А.
dc.date.accessioned2010-04-19T14:45:15Z
dc.date.available2010-04-19T14:45:15Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractВ статье показана возможность определения параметров уровней прилипания, ответственных за фотоэлектретное состояние с помощью релаксационных кривых в пленках теллурида кадмия, легированных серебром.uk_UA
dc.description.abstractУ статті показана можливість визначення параметрів рівнів прилипання, відповідальних за фотоелектретний стан за допомогою релаксаційних кривих у плівках телуріда кадмію, легованих сріблом.uk_UA
dc.description.abstractIn the paper, an ability of determination of capture levels parameters, which are responsible for photoelectret state using relaxation curves in silver-doped cadmium telluride films been studied.uk_UA
dc.identifier.citationОпределение параметров уровней прилипания, ответственных за фотоэлектретное состояние в пленках теллурида кадмия / Г.А. Набиев // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 1-2. — С. 89-91. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn1999-8074
dc.identifier.udc621.315.592
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7864
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherНауковий фізико-технологічний центр МОН та НАН Україниuk_UA
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleОпределение параметров уровней прилипания, ответственных за фотоэлектретное состояние в пленках теллурида кадмияuk_UA
dc.title.alternativeВизначення параметрів рівнів прилипання, відповідальних за фотоелектретний стан у плівках телуріда кадміюuk_UA
dc.title.alternativeDetermination of capture levels parameters responsible for photoelectret state in cadmium telluride filmsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
12-Nabiev2.pdf
Розмір:
199.68 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
929 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Физическая инженерия поверхности, 2008, № 1-2