Електричні і фотоелектричні властивості поверхнево-бар'єрних структур МoN/n-Si

dc.contributor.authorСолован, М.М.
dc.contributor.authorМар’янчук, П.Д.
dc.date.accessioned2020-04-09T16:52:16Z
dc.date.available2020-04-09T16:52:16Z
dc.date.issued2019
dc.description.abstractПредмет і мета роботи. Предметом досліджень є електричні та фотоелектричні властивості гетероструктури МoN/n-Si, отриманої шляхом напилення тонкої плівки нітриду молібдену (n-типу провідності) методом реактивного магнетронного розпилення на монокристалічні пластини кремнію n-типу провідності. Метою роботи є виготовлення фоточутливих поверхнево-бар’єрних структур МoN/n-Si, визначення бар’єрних параметрів та домінуючих механізмів струмоперенесення через отриману гетероструктуру при прямому та зворотному зміщеннях, дослідження фотоелектричних властивостей та причин втрат фотогенерованих носіїв заряду в отриманих гетероструктурах.uk_UA
dc.description.abstractПредмет и цель работы. Предметом исследований являются электрические и фотоэлектрические свойства гетероструктуры МoN/n-Si, полученной путем напыления тонкой пленки нитрида молибдена (n-типа проводимости) методом реактивного магнетронного распыления на монокристаллические пластины кремния n-типа проводимости. Целью работы является изготовление фоточувствительных поверхностно-барьерных структур МoN/n-Si, определение барьерных параметров и доминирующих механизмов токопереноса сквозь полученную гетероструктуру при прямом и обратном смещениях, исследование фотоэлектрических свойств и причин потерь фотогенерированных носителей заряда в полученных гетероструктурах.uk_UA
dc.description.abstractSubject and purpose. The subject of research is the electrical and photoelectric properties of the МoN/n-Si heterostructure fabricated for the first time by means of the deposition of thin film of molybdenum nitride (n-type conductivity) by the reactive magnetron sputtering onto single crystal substrates of n-type Si. The purpose of the work is to fabricate the photosensitive MoN/n-Si surface-barrier structures, determine the barrier parameters and dominant mechanisms of current transfer through the obtained heterostructure at direct and reverse biases, investigate the photoelectric properties and causes of losses of photogenerated charge carriers in the obtained heterostructures.uk_UA
dc.identifier.citationЕлектричні і фотоелектричні властивості поверхнево-бар'єрних структур МoN/n-Si / М.М. Солован, П.Д. Мар’янчук // Радіофізика та електроніка. — 2019. — Т. 24, № 2. — С. 49-56. — Бібліогр.: 16 назв. — укр.uk_UA
dc.identifier.issn1028-821X
dc.identifier.otherPACS: 71.55.Gs, 72.80.Ey, 73.20.Hb, 73.40.Gk, 73.40.Lq, 85.60.Bt
dc.identifier.otherDOI: https://doi.org/10.15407/rej2019.02.049
dc.identifier.udc621.383.52
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/167797
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherІнститут радіофізики і електроніки ім. А.Я. Усикова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofРадіофізика та електроніка
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectВакуумна та твердотільна електронікаuk_UA
dc.titleЕлектричні і фотоелектричні властивості поверхнево-бар'єрних структур МoN/n-Siuk_UA
dc.title.alternativeЭлектрические и фотоэлектрические свойства поверхностно-барьерных структур МoN/n-Siuk_UA
dc.title.alternativeElectrical and photoelectrical properties of the surface-barrier structures MoN/n-Siuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
04-Solovan.pdf
Розмір:
344.27 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: