Influence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungsten

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorManuilenko, O.V.
dc.contributor.authorProkhorenko, E.M.
dc.contributor.authorPavlii, K.V.
dc.contributor.authorZajtsev, B.V.
dc.contributor.authorDubniuk, S.N.
dc.contributor.authorLytvynenko, V.V.
dc.contributor.authorKasatkin, Yu.A.
dc.contributor.authorProkhorenko, T.G.
dc.date.accessioned2023-12-11T11:40:57Z
dc.date.available2023-12-11T11:40:57Z
dc.date.issued2023
dc.description.abstractThe samples of tungsten with a purity of 99.5 and 99.7% were irradiated with helium ion beams (EHe⁺ = 0.12 MeV). The total sputtering coefficients for the sample depth up to 60 Å from the surface of sample were obtained. It was found that on the surface of tungsten, the number of pits (the flecking effect) significantly exceeds the number of bubbles (the blistering effect). The damage profiles of the surface of tungsten as a result of irradiation with helium ions are calculated. The areas of maximal display of effects of damage are determined.uk_UA
dc.description.abstractПроведено опромінення зразків вольфраму з чистотою 99,5 і 99,7% пучками іонів гелію (EHe⁺ = 0,12 МeВ). Отримано сумарні коефіцієнти розпилення за глибиною зразка до 60 Å від поверхні зразка. Знайдено, що на поверхні зразків вольфраму кількість ямок (ефект флекінгу) істотно перевищує кількість бульбашок (ефект блістерингу). Пораховані профілі пошкодження поверхні вольфраму в результаті опромінення іонами гелію. Визначено зони максимального прояву руйнівних ефектів.uk_UA
dc.identifier.citationInfluence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungsten / O.V. Manuilenko, E.M. Prokhorenko, K.V. Pavlii, B.V. Zajtsev, S.N. Dubniuk, V.V. Lytvynenko, Yu.A. Kasatkin, T.G. Prokhorenko // Problems of Atomic Science and Technology. — 2023. — № 3. — С. 158-163. — Бібліогр.: 26 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1562-6016
dc.identifier.otherPACS: 52.40.HF, 29.27Ac, 621.715:539.376, 87.55N
dc.identifier.otherDOI: https://doi.org/10.46813/2023-145-158
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/196160
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherНаціональний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofProblems of Atomic Science and Technology
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectApplications and technologiesuk_UA
dc.titleInfluence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungstenuk_UA
dc.title.alternativeВплив пучків іонів гелію з енергіями 0,12 МеВ на процес розпилення на поверхні вольфрамуuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
32-Manuilenko.pdf
Розмір:
566.54 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Problems of Atomic Science and Technology, 2023, № 3