По страницам журнала «Дефектоскопия»
| dc.contributor.author | Посыпайко, Ю.Н. | |
| dc.date.accessioned | 2016-04-01T18:03:56Z | |
| dc.date.available | 2016-04-01T18:03:56Z | |
| dc.date.issued | 2005 | |
| dc.description.abstract | В 2005 г. журналу «Дефектоскопия» исполняется 40 лет. Он издается с февраля 1965 г. Российской Академией наук, а его редакция находится в Екатеринбурге, в Институте физики металлов Уральского отделения РАН. На страницах этого журнала печатались все пишущие дефектоскописты стран СНГ. Предоставлял свои страницы он и специалистам Института электросварки им. Е. О. Патона НАНУ. И сегодня журнал «Дефектоскопия» остается одним из наиболее авторитетных изданий в мире технического контроля. 1оэтому первый обзор в рубрике «По страницам журналов» мы посвящаем нашему давнему другу, советчику, воспитателю не одного поколения профессиональных дефектоскопистов — журналу «Дефектоскопия». Мы предлагаем краткий обзор публикаций 2004 г., которые обратили на себя наше внимание и должны вызвать интерес у всех практикующих дефектоскопистов. | uk_UA |
| dc.identifier.citation | По страницам журнала «Дефектоскопия» / Ю.Н. Посыпайко // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2005. — № 1. — С. 44-45. — рос. | uk_UA |
| dc.identifier.issn | 0235-3474 | |
| dc.identifier.uri | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/97782 | |
| dc.language.iso | ru | uk_UA |
| dc.publisher | Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України | uk_UA |
| dc.relation.ispartof | Автоматическая сварка | |
| dc.status | published earlier | uk_UA |
| dc.subject | Неразрушающий контроль | uk_UA |
| dc.title | По страницам журнала «Дефектоскопия» | uk_UA |
| dc.title.alternative | Overview of the contents of «Defectoscopia» journal | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
Файли
Оригінальний контейнер
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- 10-Posypaiko.pdf
- Розмір:
- 1015.57 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Контейнер ліцензії
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 817 B
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: