Устройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводников

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorАщеулов, А.А.
dc.contributor.authorБучковский, И.А.
dc.contributor.authorРоманюк, И.С.
dc.date.accessioned2014-01-06T20:19:17Z
dc.date.available2014-01-06T20:19:17Z
dc.date.issued2007
dc.description.abstractРассмотрены пути модификации известных методов и предложено устройство для измерения электропроводности полупроводниковых материалов. Описано функционирование отдельных блоков и устройства в целом.uk_UA
dc.identifier.citationУстройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводников / А.А. Ащеулов, И.А. Бучковский, И.С. Романюк // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2007. — № 2. — С. 55-57. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn2225-5818
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52783
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofТехнология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectМатериалыuk_UA
dc.titleУстройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводниковuk_UA
dc.title.alternativeПристрій для безконтактного вимірювання електропровідності напівпровідниківuk_UA
dc.title.alternativeDevice for contactless measurement of electroconductivity of semiconductorsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
17-AscheulovNEW.pdf
Розмір:
212.85 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2007, № 2