Reststrahlen spectroscopy of MgAl₂O₄ spinel

dc.contributor.authorBoguslavska, N.N.
dc.contributor.authorVenger, E.F.
dc.contributor.authorVernidub, N.M.
dc.contributor.authorPasechnik, Yu.A.
dc.contributor.authorShportko, K.V.
dc.date.accessioned2017-06-13T15:21:10Z
dc.date.available2017-06-13T15:21:10Z
dc.date.issued2002
dc.description.abstractUsing IR reflectance spectroscopy and surface polariton spectroscopy in the reststrahlen region, we investigated Czochralski-grown MgAl₂O₄ spinel. The computer analysis of variance made for spectra enabled us to get a mathematical model for reflection spectra of spinel. In our calculations we used consistent data for optical parameters (zero- and high-frequency permittivities, transverse optical phonon frequencies and corresponding damping coefficients) of spinel single crystals that have been obtained from comparison between the measured and calculated spectra. These data were used when studying attenuated total reflection spectra and dispersion curves for surface polaritons in MgAl₂O₄ spinel.uk_UA
dc.identifier.citationReststrahlen spectroscopy of MgAl₂O₄ spinel / N.N. Boguslavska, E.F. Venger, N.M. Vernidub, Yu.A. Pasechnik, K.V. Shportko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2002. — Т. 5, № 1. — С. 95-100. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1560-8034
dc.identifier.otherPACS: 71.36.+c, 78.20.-e, 78.68.+m
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/121123
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofSemiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleReststrahlen spectroscopy of MgAl₂O₄ spineluk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
17-Boguslavska.pdf
Розмір:
338.52 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: