Управление отражательной способностью слоистого сверхпроводника с помощью статического магнитного поля

Abstract

В работе показано, что благодаря нелинейной связи электромагнитного поля с током в слоистом сверхпроводнике коэффициент отражения электромагнитной волны зависит от величины внешнего магнитного поля. При этом наличие магнитного поля может приводить как к увеличению, так и уменьшению коэффициента отражения. Найдены аналитические выражения для коэффициента отражения и проанализировано его поведение при изменении параметров задачи. Особое внимание уделено проблеме минимизации коэффициента отражения в функции угла падения, величины статического магнитного поля и частоты волны. Определены условия практически полного уменьшения коэффициента отражения.

У роботі показано, що завдяки нелінійному зв’язку електромагнітного поля зі струмом у шаруватому надпровіднику коефіцієнт відбиття електромагнітної хвилі залежить від величини зовнішнього магнітного поля. При цьому наявність магнітного поля може призводити як до збільшення, так і до зменшення коефіцієнта відбиття. Знайдено аналітичні вирази для коефіцієнта відбиття та проаналізовано його поведінку при зміні параметрів задачі. Особливу увагу приділено проблемі мінімізації коефіцієнта відбиття в функції кута падіння, величини статичного магнітного поля та частоти хвилі. Визначено умови практично повного зменшення коефіцієнта відбиття.

It is shown, that due to nonlinear relation between electromagnetic field and the current inside of the layered superconductor, the electromagnetic wave reflectance depends on the value of magnetic field. The presence of magnetic field can either increase or decrease the reflectance. The analytical expressions for the reflectance are obtained and its behavior when changing the parameters of the problem is analyzed. Special attention is focused on the problem of minimization of reflectance as a function of incident angle, the value of static magnetic field and wave frequency. The conditions for nearly full suppression of reflectance are found.