The resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopy

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorMorozovska, A.N.
dc.date.accessioned2017-05-31T19:24:18Z
dc.date.available2017-05-31T19:24:18Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractThe elastic Green function and resolution function in Piezoresponse Force Microscopy (PFM) of thin piezoelectric film capped on the rigid substrate are derived. The extrinsic size effect on the resolution function is demonstrated.uk_UA
dc.description.sponsorshipAuthor is grateful to Academician, Prof. S.V. Svechnikov (NAS of Ukraine) and Dr. S.V. Kalinin (Oak Ridge National Laboratory) for valuable remarks.uk_UA
dc.identifier.citationThe resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopy / A.N. Morozovska // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2008. — Т. 11, № 2. — С. 171-177. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1560-8034
dc.identifier.otherPACS 77.80.Fm, 77.65.-j, 68.37.-d
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118851
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofSemiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleThe resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopyuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
12-Morozovska.pdf
Розмір:
236.4 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2008, № 2