Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorПавлюк, С.П.
dc.contributor.authorИщук, Л.В.
dc.contributor.authorКислицын, В.М.
dc.date.accessioned2014-02-01T22:20:39Z
dc.date.available2014-02-01T22:20:39Z
dc.date.issued2004
dc.description.abstractДля диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла.uk_UA
dc.identifier.citationЭкспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn2225-5818
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/54435
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofТехнология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectИнтегральные схемы и полупроводниковые приборыuk_UA
dc.titleЭкспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристалловuk_UA
dc.title.alternativeЕкспрес-метод контролю якості напівпровідникових діодних кристалівuk_UA
dc.title.alternativeExpress-method of semiconductor diode crystal quality diagnosticsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
17-Pavliuk.pdf
Розмір:
227.26 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2004, № 3