Особливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorКонорева, О.В.
dc.contributor.authorЛастовецький, В.Ф.
dc.contributor.authorЛастовецький, В.Ф.
dc.contributor.authorОпилат, В.Я.
dc.contributor.authorГришин, Ю. Г.
dc.contributor.authorПетренко, I.В.
dc.contributor.authorПiнковська, М.Б.
dc.contributor.authorТартачник, В.П.
dc.date.accessioned2009-07-16T08:24:01Z
dc.date.available2009-07-16T08:24:01Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractGaP LEDs with atypical current characteristics are studied by optical and electrical methods. The thin structure of an S-shaped NDR region which appears in the current-voltage characteristics at low temperatures (100–77 K) after irradiation has become more expressive and possesses the higher oscillation amplitude. The high destructive influence of fast neutrons on the emitting recombination is caused by two factors: the electrical fields of radiation defects and the capture of charged carriers by their levels.en_US
dc.identifier.citationОсобливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами / О.В. Конорева, В.Ф. Ластовецький, П. Г. Литовченко, В.Я. Опилат, Ю. Г. Гришин, I.В. Петренко, М.Б. Пiнковська, В.П. Тартачник // Доп. НАН України. — 2008. — № 3. — С. 71-76. — Бібліогр.: 9 назв. — укp.en_US
dc.identifier.issn1025-6415
dc.identifier.udc538.935
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/4125
dc.language.isouken_US
dc.publisherВидавничий дім "Академперіодика" НАН Україниen_US
dc.statuspublished earlieren_US
dc.subjectФізикаen_US
dc.titleОсобливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронамиen_US
dc.typeArticleen_US

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
08-03-14.pdf
Розмір:
227.72 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
1.79 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Доповіді НАН України, 2008, № 03