Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени

dc.contributor.authorКутаев, Ю.Ф.
dc.contributor.authorТимченко, Л.И.
dc.contributor.authorКокряцкая, Н.И.
dc.contributor.authorГубернаторов, В.А.
dc.contributor.authorПоплавский, А.А.
dc.date.accessioned2010-05-14T09:46:26Z
dc.date.available2010-05-14T09:46:26Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractВ статье рассматривается проблема контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени. Предлагается использование метода сечений для формирования выборки и последующей обработки дальнейших изображений.uk_UA
dc.description.abstractУ статті розглядається проблема контролю форми поверхні плями випромінювання у реальному часі. Пропонується використання методу перетинів для формування вибірки і наступної обробки подальших зображень.uk_UA
dc.description.abstractNow in polygraphy, laser processing of materials, a location, optical communication and other areas of engineering necessity of wider implantation of optically-electronic systems with automatic adjustment of distortions of formed light radiation is felt. Destabilising effect of mechanical or climatic factors, instability of characteristics of a source of radiation, indignation in an optical path can be the reasons of these distortions, in preliminary adjustment optical units, etc. Support of comprehensible quality of correction demands continuous runtime check of characteristics of light radiation, for example space allocation of its intensity, including an estimation of deviation of the specified allocation from initial or standard allocation. In the given operation theoretical bases on solution of the given problem are considered, the modelling which results are presented.uk_UA
dc.identifier.citationПрименение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени / Ю.Ф. Кутаев, Л.И. Тимченко, Н.И. Кокряцкая, В.А. Губернаторов, А.А. Поплавский // Штучний інтелект. — 2009. — № 4. — С. 548-554. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn1561-5359
dc.identifier.udc004.89:004.93
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/8194
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН Україниuk_UA
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectРаспознавание образов. Цифровая обработка сигналовuk_UA
dc.titleПрименение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времениuk_UA
dc.title.alternativeЗастосування методу перетинів для контролю форми поверхні плями випромінювання в реальному часіuk_UA
dc.title.alternativeApplication of the Method of Sections for the Control of the Form of the Surface of the Stain of Radiation in Real Timeuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
72-Kutaev.pdf
Розмір:
536.8 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
913 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: