Structural dependence of CsI(Tl) film scintillation properties

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorAnanenko, A.
dc.contributor.authorFedorov, A.
dc.contributor.authorLebedinsky, A.
dc.contributor.authorMateychenko, P.
dc.contributor.authorTarasov, V.
dc.contributor.authorVidaj, Yu.
dc.date.accessioned2017-06-04T16:25:11Z
dc.date.available2017-06-04T16:25:11Z
dc.date.issued2004
dc.description.abstractScintillating CsI(Tl) films were obtained by vacuum deposition on single crystalline LiF substrates and non-orienting glass substrates. Their structure and morphology were examined by X-ray diffraction and scanning electron microscopy. Scintillation properties of films dependent on their structure are discussed.uk_UA
dc.identifier.citationStructural dependence of CsI(Tl) film scintillation properties / A. Ananenko, A. Fedorov, A. Lebedinsky, P. Mateychenko, V. Tarasov, Yu. Vidaj // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2004. — Т. 7, № 3. — С. 297-300. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1560-8034
dc.identifier.otherPACS: 68.55.Jk, 29.40.Mc
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119128
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofSemiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleStructural dependence of CsI(Tl) film scintillation propertiesuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
14-Ananenko.pdf
Розмір:
509.25 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2004, № 3